Open Positions
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¡¤ Position | GaN¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡ | ||
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¡¤ Classification | Àü±â/ÀüÀÚ/¹ÝµµÃ¼R&D | ¡¤ Status | ![]() |
[Á÷¹«¸í] - GaN¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡ : »ó½Ã [´ã´ç¾÷¹«] - GaN HEMT ¼ÒÀÚ°³¹ß - GaN HEMT ¼ÒÀÚ Æ¯¼º Æò°¡ ¹× ºÐ¼® - GaN HEMT ¼ÒÀÚ & package Level Reliability test [Çʼö¿ä°Ç] - Discrete Device design °æÇè - Discrete device test & Reliability test °æÇè, Module test °æÇè - À¯°ü°æ·Â 7³â ÀÌ»óÀÚ [¿ì´ë ¿ä°Ç] - MOSFET/IGBT °³¹ß °æ·ÂÀÚ (10³â ÀÌ»ó °æ·ÂÀÚ) - GaN HEMT °³¹ß/Æò°¡ °æÇèÀÚ [±Ù¹«¿©°Ç] - ±Ù¹«Áö : °æ±â ºÎõ / ÃæºÏ À½¼º - ±Þ¿© : ¸éÁ¢ ÈÄ ÇùÀÇ [ä¿ëÀýÂ÷] - ¼·ùÀüÇü(¸¶°¨ ÈÄ 2ÁÖ À̳») ¡æ ¸éÁ¢ ÀüÇü(Á÷¹« ¹× Á¶Á÷ÀûÇÕµµ Á¾ÇÕÆò°¡) ¡æ ÀÔ»çÀÏ ¹× ó¿ìÇùÀÇ ¡æ ÀÔ»ç [Áö¿ø¼¾ç½Ä] ÀÚÀ¯¾ç½Ä * ±âŸ»çÇ× • ±¹°¡º¸ÈÆ´ë»óÀÚ ¹× Àå¾ÖÀÎÀº °ü°è¹ý¿¡ ÀÇ°ÅÇÏ¿© ¿ì´ëÇÕ´Ï´Ù. • °æ·Â/ÇзÂÁõ¸í¼/ÀÚ°ÝÁõ »çº» µî »ç½Ç°ú ´Ù¸¦ °æ¿ì ÇÕ°Ý(ÀÔ»ç) Ãë¼Ò µË´Ï´Ù. • ¸éÁ¢ ÀÏÁ¤Àº ¼·ù ÇÕ°ÝÀÚ¿¡ ÇÑÇØ °³º°¾È³»ÇØ µå¸³´Ï´Ù. * ´ã´çÀÚ ¹× ¿¬¶ôó: ¹Ú°æÈ£ Àü¹« / 010 5413 7097 / dosarao@huntersgroup.co.kr |
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