Open Positions

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¡¤ Position SiC¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡
¡¤ Classification Àü±â/ÀüÀÚ/¹ÝµµÃ¼R&D ¡¤ Status

[Á÷¹«¸í]
 - SiC¼ÒÀÚ°³¹ß/Æò°¡ : »ó½Ã

[´ã´ç¾÷¹«]
 - SiC MOSFET ¼ÒÀÚ°³¹ß
 - SiC MOSFET ¼ÒÀÚ Æ¯¼º Æò°¡ ¹× ºÐ¼®
 - SiC MOSFET ¼ÒÀÚ & package Level Reliability test

[Çʼö¿ä°Ç] 
 - Discrete Device design °æÇè
 - Discrete device test & Reliability test °æÇè, Module test °æÇè
 - À¯°ü°æ·Â 7³â ÀÌ»óÀÚ

[¿ì´ë ¿ä°Ç]
 - MOSFET/IGBT °³¹ß °æ·ÂÀÚ (10³â ÀÌ»ó °æ·ÂÀÚ)
 - SiC MOSFET °³¹ß/Æò°¡ °æÇèÀÚ

[±Ù¹«¿©°Ç] 
- ±Ù¹«Áö : °æ±â ºÎõ / ÃæºÏ À½¼º
- ±Þ¿© : ¸éÁ¢ ÈÄ ÇùÀÇ

[ä¿ëÀýÂ÷]
- ¼­·ùÀüÇü(¸¶°¨ ÈÄ 2ÁÖ À̳») ¡æ ¸éÁ¢ ÀüÇü(Á÷¹« ¹× Á¶Á÷ÀûÇÕµµ Á¾ÇÕÆò°¡) ¡æ ÀÔ»çÀÏ ¹× ó¿ìÇùÀÇ ¡æ ÀÔ»ç

[Áö¿ø¼­¾ç½Ä] ÀÚÀ¯¾ç½Ä

* ±âŸ»çÇ×
  • ±¹°¡º¸ÈÆ´ë»óÀÚ ¹× Àå¾ÖÀÎÀº °ü°è¹ý¿¡ ÀÇ°ÅÇÏ¿© ¿ì´ëÇÕ´Ï´Ù.
  • °æ·Â/ÇзÂÁõ¸í¼­/ÀÚ°ÝÁõ »çº» µî »ç½Ç°ú ´Ù¸¦ °æ¿ì ÇÕ°Ý(ÀÔ»ç) Ãë¼Ò µË´Ï´Ù.
  • ¸éÁ¢ ÀÏÁ¤Àº ¼­·ù ÇÕ°ÝÀÚ¿¡ ÇÑÇØ °³º°¾È³»ÇØ µå¸³´Ï´Ù.

* ´ã´çÀÚ ¹× ¿¬¶ôó: ¹Ú°æÈ£ Àü¹« / 010 5413 7097 / dosarao@huntersgroup.co.kr